所属单位名称:
湘潭大学
仪器用途:
材料
功能用途说明:
用来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。
技术性能指标:
通过一次x射线穿透金属元素样品时,产生低能量的光子,俗称为二次荧光,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。